Strona: Laboratorium Badań Warstwy Wierzchniej / Katedra Technologii Maszyn i Inżynierii Produkcji

W Laboratorium prowadzone są badania: 

• fraktograficzne powierzchni,
• topografii i struktury geometrycznej powierzchni w układzie 2D oraz 3D,
• mikrotwardości warstwy wierzchniej,
• rozkładu naprężeń własnych w warstwie wierzchniej,
• zwilżalności ciał stałych

 Wykaz prac usługowo-badawczych na potrzeby otoczenia przemysłowego możliwych do realizacji w laboratorium:

• stykowe i bezstykowe pomiary chropowatości powierzchni elementów maszyn i urządzeń,
• pomiary rozkładu mikrotwardości w warstwach wierzchnich elementów maszyn i urządzeń,
• pomiary rozkładu naprężeń własnych w warstwach wierzchnich elementów maszyn i urządzeń,
• pomiary zwilżalności ciał stałych.

Główna aparatura badawcza laboratorium:

Badanie reakcji cieczy z powierzchnią ciał stałych dla takich materiałów jak polimery, metale, folie, papier czy tektura. Wyposażony w kamerę wideo z możliwością rejestracji 15 obrazów na sekundę, służy do pomiaru statycznego i dynamicznego kąta zwilżania oraz szybkości absorpcji.

kontakt: Ryszard Perłowski,  (17)8651727,  e-mail: rpztmiop@prz.edu.pl

System pozwala na zbieranie w bardzo krótkim czasie wysokiej jakości obrazów optycznych oraz elektronowych, a także na analizę składu chemicznego.

Mikroskop Phenom Pro zapewnia możliwość uzyskiwania obrazów o powiększeniach rzędu do 150 000x, przy zapewnieniu ich wysokiej jakości oraz dużej głębi ostrości.

Charakterystyka skaningowego mikroskopu elektronowego Phenom ProX:

• powiększenie: do 150 000x
• długi czas życia źródła elektronów (nawet 1500 godzin)
• źródło elektronów zoptymalizowane pod kątem możliwości osiągania wysokich rozdzielczości – 10 nm dla detektora BSE, 8 nm dla detektora SE
• katoda CeB6 pracująca z napięciem przyspieszającym 5kV, 10kV i 15kV – polepszenie rozdzielczości (regulacja co 0,1kV w zakresie 4,8kV – 15kV)
• detektor elektronów wstecznie rozproszonych, z możliwością pracy w dwóch trybach:
  • podstawowym
  • topograficznym
• możliwość archiwizacji obrazów w następujących formatach: TIFF, JPEG, BMP
• zintegrowany spektrometr EDS umożliwia analizę pierwiastkową składu chemicznego
• czas niezbędny do uzyskania obrazu:
  • optycznego: 5 sekund
  • elektronowego: 30 sekund
• łatwy w obsłudze, intuicyjny interfejs użytkownika

Stanowisko do pomiaru rozkładu naprężeń własnych w warstwie wierzchniej metodą ubytkową

Mikroskop uniwersalny NMM 800 TRF z możliwością rejestracji filmów i zdjęć

Mikrotwardościomierz Reichertem KL-2

Profilometr stykowy Taylor-Hobson Surtronic 25

Badania topografii różnorodnych powierzchni w układzie 2D (120 parametrów) oraz 3D (40 parametrów).

kontakt: Paweł Pawlus, (17)8651183, e-mail: ppawlus@prz.edu.pl