Laboratorium Badań Warstwy Wierzchniej
W Laboratorium prowadzone są badania:
- fraktograficzne powierzchni,
- topografii i struktury geometrycznej powierzchni w układzie 2D oraz 3D,
- mikrotwardości warstwy wierzchniej,
- rozkładu naprężeń własnych w warstwie wierzchniej,
- zwilżalności ciał stałych
Wykaz prac usługowo-badawczych na potrzeby otoczenia przemysłowego możliwych do realizacji w laboratorium:
- stykowe i bezstykowe pomiary chropowatości powierzchni elementów maszyn i urządzeń,
- pomiary rozkładu mikrotwardości w warstwach wierzchnich elementów maszyn i urządzeń,
- pomiary rozkładu naprężeń własnych w warstwach wierzchnich elementów maszyn i urządzeń,
- pomiary zwilżalności ciał stałych.
Główna aparatura badawcza laboratorium:
Profilometr Optyczny Talysurf CCI Lite
Badania topografii różnorodnych powierzchni w układzie 2D (120 parametrów) oraz 3D (40 parametrów)..
kontakt: Paweł Pawlus, (17)8651183, ppawlus@prz.edu.pl
Profilometr stykowy Taylor-Hobson Surtronic 25
Mikrotwardościomierz Reichertem KL-2
Mikroskop uniwersalny NMM 800 TRF z możliwością rejestracji filmów i zdjęć
Stanowisko do pomiaru rozkładu naprężeń własnych w warstwie wierzchniej metodą ubytkową
System skaningowego mikroskopu elektronowego Phenom ProX
System pozwala na zbieranie w bardzo krótkim czasie wysokiej jakości obrazów optycznych oraz elektronowych, a także na analizę składu chemicznego.
Mikroskop Phenom Pro zapewnia możliwość uzyskiwania obrazów o powiększeniach rzędu do 150 000x, przy zapewnieniu ich wysokiej jakości oraz dużej głębi ostrości.
Charakterystyka skaningowego mikroskopu elektronowego Phenom ProX:
- powiększenie: do 150 000x
- długi czas życia źródła elektronów (nawet 1500 godzin)
- źródło elektronów zoptymalizowane pod kątem możliwości osiągania wysokich rozdzielczości – 10 nm dla detektora BSE, 8 nm dla detektora SE
- katoda CeB6 pracująca z napięciem przyspieszającym 5kV, 10kV i 15kV – polepszenie rozdzielczości (regulacja co 0,1kV w zakresie 4,8kV – 15kV)
- detektor elektronów wstecznie rozproszonych, z możliwością pracy w dwóch trybach:
- podstawowym
- topograficznym
- możliwość archiwizacji obrazów w następujących formatach: TIFF, JPEG, BMP
- zintegrowany spektrometr EDS umożliwia analizę pierwiastkową składu chemicznego
- czas niezbędny do uzyskania obrazu:
- optycznego: 5 sekund
- elektronowego: 30 sekund
- łatwy w obsłudze, intuicyjny interfejs użytkownika
Goniometr PG-3
Badanie reakcji cieczy z powierzchnią ciał stałych dla takich materiałów jak polimery, metale, folie, papier czy tektura. Wyposażony w kamerę wideo z możliwością rejestracji 15 obrazów na sekundę, służy do pomiaru statycznego i dynamicznego kąta zwilżania oraz szybkości absorpcji.
kontakt: Ryszard Perłowski, (17)8651727, rpztmiop@prz.edu.pl
